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納米激光粒度儀測(cè)試時(shí)遮光比該如何選取

發(fā)布日期: 2020-07-20
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  遮光比是當(dāng)使用納米激光粒度儀測(cè)試樣品時(shí)配置的樣品懸浮液的濃度。正確選擇陰影比率是粒度測(cè)量過程中的重要步驟。遮光率是否合適或樣品的濃度是否合適會(huì)嚴(yán)重影響粒度測(cè)量結(jié)果的性和代表性。
 

納米激光粒度儀

  納米激光粒度儀的測(cè)量原理要求樣品的濃度應(yīng)基于樣品中顆粒之間不發(fā)生二次散射的原理。從理論上講,懸浮液或空氣中顆粒之間的距離應(yīng)為粒徑的3倍,但是,這一要求很難掌握,因此在實(shí)際粒度測(cè)試中,調(diào)整陰影比值以確保存在粒子之間沒有二次散射。陰影比例不應(yīng)太大(大于50%)或太?。ㄐ∮?%)。遮光率過大時(shí),粒子濃度過高,容易引起二次散射,測(cè)定誤差變大。如果遮蔽率太低,則樣品中的顆粒濃度太低,顆粒數(shù)太少,測(cè)試結(jié)果的代表性非常差,甚至可能導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果無效。因此,在測(cè)試過程中,應(yīng)重復(fù)選擇遮光比率以獲得正確的測(cè)量結(jié)果。
  一般而言,對(duì)于較粗糙的樣品,遮光率可以更高,例如20?30%,正常情況下可以達(dá)到10?25%。對(duì)于超細(xì)樣品,可以適當(dāng)降低樣品的遮光率,但通常不超過40%。使用納米激光粒度儀進(jìn)行粒度測(cè)試時(shí),由不同人員操作有時(shí)會(huì)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不同。如何確保粒度測(cè)試在可重復(fù)性方面,應(yīng)注意以下要求:
  1.儀器系統(tǒng)必須穩(wěn)定可靠,包括信號(hào)傳輸系統(tǒng),數(shù)據(jù)處理,抗干擾等;
  2.系統(tǒng)配備循環(huán)分散混合裝置;
  3.儀器供應(yīng)商應(yīng)具備提供技術(shù)指導(dǎo)的能力;
  4.儀器具有規(guī)范的操作程序功能;
  5.注意儀器和操作以外的因素,包括采樣因素和環(huán)境因素。
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