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納米粒度檢測(cè)的幾種技術(shù)介紹

發(fā)布日期: 2022-02-17
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1、動(dòng)態(tài)光散射DLS技術(shù)
 
動(dòng)態(tài)光散射(DLS),是分析納米和亞微米領(lǐng)域的粒度大小與分布常用的方法。
 
根據(jù)Stokes-Einstein理論,顆粒的擴(kuò)散受溶液粘度、溫度和粒徑的影響。舉例來說,在粘度和溫度一定時(shí),小顆粒運(yùn)動(dòng)快,大顆粒運(yùn)動(dòng)慢。
 
DLS法檢測(cè)粒度(也就是水力學(xué)粒徑)是通過探測(cè)顆粒在液體中布朗運(yùn)動(dòng)的光學(xué)信號(hào)來分析的。
 
2、傳統(tǒng)光子相關(guān)光譜PCS技術(shù)
 
大部分的DLS原理是通過PCS方法實(shí)現(xiàn)的。單激光束入射到樣品中,顆粒將入射光散射到各個(gè)角度,隨后由一個(gè)光檢測(cè)器收集一定角度上的散射光強(qiáng)。
 
傳統(tǒng)的PCS理論只能針對(duì)單散射有效。也就是說每個(gè)光子只能被顆粒散射一次。任何多重散射光強(qiáng)的加入都會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的結(jié)果。
 
當(dāng)樣品濃度較高時(shí),發(fā)生多重散射的機(jī)率增加,因此往往需要經(jīng)過高倍稀釋后才能進(jìn)行粒徑檢測(cè)。
 
3、創(chuàng)新光子交叉相關(guān)光譜PCCS技術(shù)
結(jié)合雙光束、雙探測(cè)器的設(shè)計(jì),在分析高濃度的納米顆粒樣品時(shí),雙探測(cè)器得到2組獨(dú)立的散射信號(hào),再進(jìn)行交叉相關(guān)運(yùn)算處理,可以有效消除多重散射的影響,因此檢測(cè)結(jié)果不受濃度高低的影響,樣品無需稀釋也可得到、穩(wěn)定的粒徑測(cè)試結(jié)果。

 
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